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但是这个当我们考虑到这一点时,这并不奇怪专电解电容器的质量有在漏电流方面有很大改进在过去的20年里。a的泄漏电流值约为10μA35 V时1000μF电解电容(参见图3)因此非见。这些属性是可以理解,可以松解释使用激能量的模型。的水平操作时的漏电流条件可以近似计算使用图7和8中所示的因Iop / IL下面。
图9显示了测量结果两个2100μF电容器的漏电流温度显示温度依赖性以上根据实际例子进行了描述。许多制造商也发布了指令和至是描述影响力的公式施加电压的水平对预期有用生活。既然我们现在知道应用的水平了电压共同决定泄漏的程度电流,当然可以假设电压影响使用寿命。毕,是也是衡量发生的形成工作的标准在电容器的整个寿命期间。
此成型工作终从中抽出氧气电解质并用它来修受损或因此,电解质减弱了氧化物层消耗。粹的理论依据,因此,如果满额定电压适用于电解电容器组件应提供比使用时短的使用寿命施加较低的电压。但是,如果我们考虑物理原因了电流很可能只有部分会在开关电源形成工作的形式。其余部分电子将穿过电介质隧道使用隧将以交叉的形式流动。